Products製品紹介
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パターン付きウェーハ外観検査装置
ZI-3600
Wafer size 100mm ~ 300mm
300mmウェーハ対応・高解像度対応のZIシリーズ最上位機種
特長
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1. ハイスピード検査
独自の検査ヘッドと高速画像処理エンジン搭載により、従来比1.5倍のハイスループットを実現。ウェーハ内のチップサイズや個数に影響を受けずに、高い生産性を実現します。
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2. 高解像度対応
1.0μmの高解像度レンズを新たに採用し、より高精度な検査に対応。さらに解像度の異なるレンズを同時に搭載でき、3段階の切替がレシピで容易に行えます。
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3. ユーザーフレンドリーな操作性
簡単操作で短時間でのレシピ作成が可能。ウェーハサイズの切替もスイッチひとつで行えます。さらに薄ウェーハにも、装置内パーツを交換せずに容易に対応できます。
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